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Mustererkennung proceedings ; DAGM-Symposium

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Fortlaufende RessourceSprache: Deutsch, Englisch Bände: Zeige BändeVerlag: Berlin Heidelberg New York, NY Barcelona Hongkong London Mailand Paris Singapur Tokio Springer 1983-2000Beschreibung: 24 cmInhaltstyp:

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ohne Hilfsmittel zu benutzen

Datenträgertyp:

Band

Weitere Titel:

Informatik-Fachberichte / Mustererkennung

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Genre/Form:

Andere physische Formen: Erscheint auch als: MustererkennungDDC-Klassifikation:

006.4 22/ger
004
004

Andere Klassifikation:

ST 330
54.74
54.75

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Beteil. Körp. teils: Österreichische Computer-Gesellschaft, Arbeitskreis für Mustererkennung

Ersch. jährl.

Beitr. teilw. dt., teilw. engl

++Informatik-Fachberichte

++Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Fachberichte

Mustererkennung

Narmada and environment

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